[发明专利]一种制备铜铋硫薄膜的方法有效
申请号: | 201610649224.4 | 申请日: | 2016-08-10 |
公开(公告)号: | CN106086788B | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 韩俊峰;刘雨浓;姚裕贵 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | C23C14/06 | 分类号: | C23C14/06;C23C14/18;C23C14/24;C23C14/58 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心11120 | 代理人: | 杨志兵,仇蕾安 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种制备铜铋硫薄膜的方法,属于半导体材料领域。先在洁净的基底上真空蒸镀金属铋薄膜,然后再在金属铋薄膜上真空蒸镀CuS薄膜,最后将沉积金属铋薄膜和CuS薄膜的基底放入加热炉中进行热处理,基底上沉积的薄膜即为所述的铜铋硫薄膜。本发明所述方法中的镀膜和硫化均在真空条件下进行,保证了材料的纯净度;制备的薄膜中元素的比例通过镀膜的厚度调控,薄膜结晶的状况通过硫化处理温度和硫的气氛调控,使得控制较为简单;硫化时采用单质硫而不是硫化氢,使得工艺方法更加环保。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 铜铋硫 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
一种制备铜铋硫薄膜的方法,其特征在于:所述方法步骤如下:步骤1.将洁净的基底放入真空蒸镀装置中,真空蒸镀装置的腔室压强控制在1×10‑5Pa~5×10‑2Pa,打开铋蒸发源的电源将铋蒸发源加热至200℃~300℃,然后开始金属铋的蒸镀,关闭铋蒸发源的电源停止金属铋的蒸镀;待真空蒸镀装置的腔室内温度降至100℃以下且压强控制在1×10‑4Pa~5×10‑2Pa时,打开CuS蒸发源的电源将CuS蒸发源加热至800℃~1100℃,然后开始CuS的蒸镀,关闭CuS蒸发源的电源停止CuS的蒸镀;待真空蒸镀装置的腔室内温度降至100℃以下时,停止对真空蒸镀装置抽真空,取出沉积金属铋薄膜和CuS薄膜的基底;步骤2.在加热炉中放置固体硫,并在距离固体硫5cm~20cm处放置沉积金属铋薄膜和CuS薄膜的基底;然后,先对加热炉进行抽真空处理,再通入流量为20sccm~100sccm的氢氩混合气体,并控制加热炉内的压强为20torr~100torr,然后在400℃~600℃下热处理30min~60min,冷却,基底上沉积的薄膜即为所述的铜铋硫薄膜。
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