[发明专利]一种判别顺式与反式几何异构体的近红外光谱分析方法有效

专利信息
申请号: 201610658359.7 申请日: 2016-07-29
公开(公告)号: CN106841098B 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 范琦;谢欠;李诗倩 申请(专利权)人: 重庆医科大学
主分类号: G01N21/359 分类号: G01N21/359
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400016 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明公开了一种判别顺式与反式几何异构体的近红外光谱分析方法,先在一定的测量条件下采集几何异构体各顺式样品和反式样品的近红外光谱,所得光谱不进行预处理或进行化学计量学预处理,从所得光谱数据中选择建模光谱范围,对所选光谱范围的数据进行降维后,采用化学计量学方法建立并验证顺式与反式几何异构体的判别模型;然后取未知顺式与反式的几何异构体样品,按照前述相同方法采集近红外光谱并进行光谱数据的多步骤处理,最后应用所建模型进行顺式与反式几何异构体的判别。本发明基于几何异构体的近红外光谱,结合化学计量学技术,判别顺式与反式几何异构体,具有准确、简便、快速、无损的优点。
搜索关键词: 一种 判别 顺式 反式 几何异构 红外 光谱分析 方法
【主权项】:
1.一种判别顺式与反式几何异构体的近红外光谱分析方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)设置近红外光谱仪的分辨率为4cm‑1、扫描次数为64次,在10000~4000cm‑1扫描范围内分别采集格列美脲各顺式样品和反式样品的近红外漫反射光谱;(2)采用多元信号修正、导数和平滑的方法对步骤(1)所得光谱进行预处理;(3)在步骤(2)所得光谱数据中选择6600~6500cm‑1和6000~5800cm‑1为建模光谱范围;(4)采用主成分分析法对步骤(3)所选光谱范围的数据进行降维;(5)对步骤(4)所得数据,以建模主成分数为2、采用判别分析法建立并验证顺式与反式格列美脲几何异构体的判别模型,所建模型的性能由校正集正判率和验证集正判率进行评价;(6)取未知顺式与反式的格列美脲几何异构体样品,按照步骤(1)所述方法采集近红外漫反射光谱,按照步骤(2)~(4)所述方法进行光谱的多步骤处理,然后应用步骤(5)所建模型进行顺式与反式格列美脲几何异构体的判别。
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