[发明专利]探头系统和检测方法有效
| 申请号： | 201610666159.6 | 申请日： | 2016-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN107726053B | 公开（公告）日： | 2020-10-13 |
| 发明（设计）人： | 翟梓融;凯文·乔治·哈丁;韩杰;杨东民;克拉克·亚历山大·本多尔;顾嘉俊 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | F17D5/02 | 分类号： | F17D5/02;G01B11/25 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 侯颖媖 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种探头系统。该探头系统包括：发光单元，用来发射光；图案生成单元，用来投射至少一个参照结构光图案至物体表面以获得至少一个参照投影图案，所述图案生成单元包括振镜扫描单元，用来将发光单元发射的光反射至多个方向；及光强调制器，用来根据所述参照投影图案调制发光单元发射的光的强度，且提供调制光至所述振镜扫描单元来将调制光反射至多个方向，来投射至少一个调制结构光图案至物体表面，以获得至少一个调制投影图案。本发明还公开一种检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 探头 系统 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种探头系统，其特征在于，其包括：发光单元，用来发射光；图案生成单元，用来投射至少一个参照结构光图案至物体表面以获得至少一个参照投影图案，所述图案生成单元包括振镜扫描单元，用来将发光单元发射的光反射至多个方向；及光强调制器，用来根据所述参照投影图案调制发光单元发射的光的强度，且提供调制光至所述振镜扫描单元来将调制光反射至多个方向，来投射至少一个调制结构光图案至物体表面，以获得至少一个调制投影图案。
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