[发明专利]集测厚仪、密度计和料位计于一体的测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种集测厚仪、密度计和料位计于一体的测量装置及测量方法，该装置由底座、升降平台、方斗状容器、放射源、探测器、带有刻度尺的圆柱型套筒、升降平台支撑柱组成；升降平台由马达控制，升降平台下方的刻度尺用来显示方斗状容器内液位高度，容器上方“方斗”用来进行测厚仪实验演示；该装置通过改变容器内溶液密度来进行密度计实验演示；本发明可以满足国内高效核科学与技术专业对核仪表课程实验教学的迫切需求，还可以推广到生产单位，产生经济效益。

主权项

1.集测厚仪、密度计和料位计于一体的测量装置，其特征在于：包括中空底座(1)，设置在中空底座(1)中空部位底部的升降平台支撑柱(7)，依次固定在升降平台支撑柱(7)上的带有刻度尺的圆柱型套筒(6)、升降平台(2)和方斗状容器(3)，所述方斗状容器(3)、带有刻度尺的圆柱型套筒(6)及升降平台(2)固定在一起，在升降平台支撑柱(7)上同步移动；还包括固定在中空底座(1)上的放射源(4)和探测器(5)，所述放射源(4)和探测器(5)位于方斗状容器(3)的两端且放射源(4)和探测器(5)位于同一水平面上；所述带有刻度尺的圆柱型套筒(6)的刻度是这样标注的：当容器的底部处于放射源(4)和探测器(5)连线位置时，表示此时液面高度为“0”，此时设于底座上的高度指针指向刻度尺的0点；当容器内加入溶液，控制平台向下移动，当液面处于放射源(4)和探测器(5)连线位置时，平台停止移动，此时高度指针所指刻度即为液面高度；所述升降平台支撑柱(7)由马达控制其升降；所述放射源(4)的准直孔孔径为1mm。