[发明专利]半导体封装结构有效

专利信息
申请号: 201610715257.4 申请日: 2016-08-24
公开(公告)号: CN106653705B 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 刘乃玮;林子闳;彭逸轩;蕭景文;黄伟哲 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/48
代理公司: 44280 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 何青瓦
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例提供了一种具有高可靠性的半导体封装结构。其中该半导体封装结构包括:半导体晶粒,具有第一表面及相对于该第一表面的第二表面;模塑料,围绕该第半导体晶粒;重分布层结构,设置在该半导体晶粒的该第二表面上并且在该模塑料上横向延伸;以及保护层,覆盖该重分布层结构的侧壁。
搜索关键词: 半导体 封装 结构
【主权项】:
1.一种半导体封装结构,其特征在于,包括:/n第一半导体晶粒,具有第一表面及相对于该第一表面的第二表面;/n第一模塑料,围绕该第一半导体晶粒;/n第一重分布层结构,设置在该第一半导体晶粒的该第二表面上并且在该第一模塑料上横向延伸;/n第二半导体晶粒,设置在该第一重分布层结构上并且具有第三表面与相对于该第三表面的第四表面,其中该第一重分布层结构位于该第一半导体晶粒与该第二半导体晶粒之间;/n第二模塑料,围绕该第二半导体晶粒;/n第二重分布层结构,设置在该第二半导体晶粒的该第四表面上并且在该第二模塑料上横向延伸;/n第一保护层,覆盖该第一重分布层结构的侧壁和该第一模塑料的侧壁;以及/n底部保护层,设置在该第一半导体晶粒的该第一表面上,/n其中,该第一保护层沿着该第一重分布层结构的侧壁和该第一模塑料的侧壁共平面地延伸至该底部保护层。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联发科技股份有限公司,未经联发科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610715257.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top