[发明专利]一种耐电性能测试方法及系统有效
| 申请号： | 201610726449.5 | 申请日： | 2016-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN106324349B | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 孙龙;史书汉 | 申请（专利权）人： | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 李世喆 |
| 地址： | 250100 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种耐电性能测试方法及系统，耐电性能测试方法包括：确定待测印刷电路板，并为所述待测印刷电路板中的每一个导电叠层部署对应的导电叠层信号线；为所述待测印刷电路板设置至少一个过孔；为所述待测印刷电路板上的每一个过孔部署对应的过孔信号线；通过所述导电叠层信号线与所述过孔信号线，测试每一个导电叠层与过孔之间的电阻值。本发明实现了对印刷电路板中过孔与导电叠层之间的耐电性能进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 印刷电路板 导电叠层 耐电性能 信号线 测试方法及系统 测试 电阻 部署 | ||
【主权项】：
1.一种耐电性能测试方法，其特征在于，包括：确定待测印刷电路板，并为所述待测印刷电路板中的每一个导电叠层部署对应的导电叠层信号线；为所述待测印刷电路板设置至少一个过孔；为所述待测印刷电路板上的每一个过孔部署对应的过孔信号线；通过所述导电叠层信号线与所述过孔信号线，测试每一个导电叠层与过孔之间的电阻值。
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