[发明专利]SOT外形集成电路芯片测试分选装置

摘要

本发明公开了SOT外形集成电路芯片测试分选装置，包括上料机构、测试轨道、分离器、分类存贮模块、工控机和若干测试站；测试轨道的始端与上料机构相邻，末端与分类存贮模块相邻；当装置工作时，分离器对微型芯片在测试轨道上的输送进行控制使芯片有序地到达各测试站；若干测试站在测试轨道处顺序排列，测试站设有测试夹片和芯片挡针，当到达测试站的微型芯片需进行测试时，测试夹片夹持微型芯片的引脚并对芯片进行测试，当到达测试站的微型芯片无需测试时，测试站以芯片挡针对微型芯片在各测试站处的输送进行控制；已测芯片被分类存贮模块导入与测试结果对应的芯片存贮料盒内；本发明针对微小型芯片进行优化，能高效地对微型芯片进行检测。