[发明专利]基于正交表的多条件参数测试用例设计方法在审
申请号: | 201610788798.X | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN107783895A | 公开(公告)日: | 2018-03-09 |
发明(设计)人: | 戴昭君 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于正交表的多条件参数测试用例设计方法,包括如下步骤步骤一、确定测试项中有哪些变量;步骤二、确定每个变量有哪几个水平;步骤三、选择一个合适的正交表;步骤四、把变量的值映射到所述正交表中;步骤五、把每一行的各变量水平的组合作为一个测试用例。本发明能够有效的提取测试关键因素、提高测试效率。 | ||
搜索关键词: | 基于 正交 条件 参数 测试 设计 方法 | ||
【主权项】:
一种基于正交表的多条件参数测试用例设计方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、确定测试项中有哪些变量;步骤二、确定每个变量有哪几个水平;步骤三、选择一个合适的正交表;步骤四、把变量的值映射到所述正交表中;步骤五、把每一行的各变量水平的组合作为一个测试用例。
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