[发明专利]集成电路及集成电路的一输入输出接口的测试方法有效
申请号: | 201610801478.3 | 申请日: | 2016-09-05 |
公开(公告)号: | CN107797046B | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 林裕翔;高秉佑 | 申请(专利权)人: | 扬智科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 胡林岭 |
地址: | 中国台湾*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本揭露提供一种集成电路及集成电路的一输入输出接口的测试方法。输入输出接口包含一第一输入输出电路及一第二输入输出电路。测试方法包含以下步骤。在一第一周期中,第一输入输出电路依据一第一时脉输入信号产生一第一时脉输出信号。在一第一周期中,使用第一时脉输出信号控制第二输入输出电路,使第二输入输出电路依据一第一数据输入信号产生一第一数据输出信号。在一第一周期中,比较第一数据输入信号及第一数据输出信号以判断第二输入输出电路是否正常操作。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 输入输出 接口 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种集成电路,其特征在于,包含:一输入输出接口,包含一第一输入输出电路及一第二输入输出电路;以及一控制电路,产生一第一时脉输入信号及一第一数据输入信号;其中当该集成电路操作在一第一周期时,该第一输入输出电路依据该第一时脉输入信号产生一第一时脉输出信号;该第二输入输出电路于该第一时脉输出信号的控制下操作,并依据该第一数据输入信号产生一第一数据输出信号;以及该控制电路比较该第一数据输入信号及该第一数据输出信号以判断该第二输入输出电路是否正常操作。
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