[发明专利]原位测定样品温度的透射电子显微镜样品杆有效

专利信息
申请号: 201610824455.4 申请日: 2016-09-14
公开(公告)号: CN106298412B 公开(公告)日: 2017-12-05
发明(设计)人: 刘小青;何峰;谢峻林;方德;李凤祥 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: H01J37/20 分类号: H01J37/20;H01J37/28
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司42102 代理人: 崔友明
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种原位测定样品温度的透射电子显微镜样品杆,包括依次连接的样品杆头、杆身、手握柄,样品杆头包括上层盖板和置于上层盖板下的载物台;上层盖板上设有第一透射孔;载物台上设有第一凹槽和第二凹槽,第一凹槽和第二凹槽通过碳化硅薄片隔开;第一凹槽的底部设有与第一透射孔相对应的第二透射孔;第一凹槽内设有放置样品的样品架;在第一凹槽的底面、与碳化硅薄片接触的第一凹槽的两侧均涂有绝缘层;第二凹槽内从下往上依次设有热电偶、绝缘盖板,热电偶的测温端与碳化硅薄片接触,热电偶通过导线与测温仪表连接;第二凹槽的底面和内壁均涂有绝缘层。本发明能方便透射电子显微镜实时检测样品材料的温度。
搜索关键词: 原位 测定 样品 温度 透射 电子显微镜
【主权项】:
一种原位测定样品温度的透射电子显微镜样品杆,包括依次连接的样品杆头、杆身、手握柄,其特征在于:所述样品杆头包括上层盖板和置于上层盖板下的载物台;所述上层盖板上设有第一透射孔;所述载物台上设有第一凹槽和第二凹槽,第一凹槽和第二凹槽通过碳化硅薄片隔开;第一凹槽的底部设有与第一透射孔相对应的第二透射孔;第一凹槽内设有放置样品的样品架;在第一凹槽的底面、与碳化硅薄片接触的第一凹槽的两侧均涂有绝缘层;第二凹槽内从下往上依次设有热电偶、绝缘盖板,热电偶的测温端与碳化硅薄片接触,热电偶通过导线与测温仪表连接;第二凹槽的底面和内壁均涂有绝缘层。
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