[发明专利]用于检查液晶的注射情况的方法和装置在审
申请号: | 201610824521.8 | 申请日: | 2016-09-13 |
公开(公告)号: | CN107065236A | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
发明(设计)人: | 黄映珉;金宰湖;金兑昱;李锺勋 | 申请(专利权)人: | SNU精密股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1341 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 徐伟 |
地址: | 韩国忠*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 公开了一种用于检查液晶的注射情况的方法和装置,其中具有被注射在上基板与下基板之间的液晶的液晶盒被局部挤压,并且由此挤压度改变,使得可以基于该挤压度来检查液晶的注射情况。为此,检查液晶的注射情况的方法包括挤压步骤,以预设压力在挤压位置处挤压液晶盒;测量步骤,测量液晶盒在挤压步骤中挤压的挤压位置处的挤压度;以及检查步骤,将液晶盒的挤压度与预设参考变形度进行比较。在检查步骤中,如果液晶盒的挤压度在预设参考变形度的误差范围内,则确定液晶在正常注射情况下,而如果液晶盒的挤压度在预设参考变形度的误差范围之外,则确定液晶在不良注射情况下。 | ||
搜索关键词: | 用于 检查 液晶 注射 情况 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种检查注射在液晶盒的上基板与下基板之间的液晶的注射情况的方法,所述方法包括:挤压步骤,以预设压力在挤压位置处挤压所述液晶盒;测量步骤,测量所述液晶盒在所述挤压步骤中挤压的挤压位置处的挤压度;以及检查步骤,将所述液晶盒的挤压度与预设参考变形度进行比较。
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