[发明专利]基于芯片版图的故障注入分析方法及系统有效
| 申请号： | 201610826655.3 | 申请日： | 2016-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN107818271B | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | 杨坤 | 申请（专利权）人： | 国民技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/77 | 分类号： | G06F21/77;G06F30/30 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于芯片版图的故障注入分析方法及系统。该方法包括：获取待测芯片的芯片版图；在待测芯片上的选定区域进行故障注入；对待测芯片在故障注入状态下的运行数据进行采集；根据采集的运行数据分析待测芯片的状态，进而判断选定区域对故障注入的敏感度；根据敏感度对芯片版图的对应区域进行区分化标记。通过上述方式，将版图分析与故障注入分析相结合，并根据不同芯片区域对故障注入的敏感度不同在版图上进行区分化标记，进而能够更好的快速定位敏感区域，并可以直观的对芯片防护设计进行指导性评估。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 芯片 版图 故障 注入 分析 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种基于芯片版图的故障注入分析方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测芯片的芯片版图；在所述待测芯片上的选定区域进行故障注入；对所述待测芯片在故障注入状态下的运行数据进行采集；根据采集的运行数据分析所述待测芯片的状态，进而判断所述选定区域对故障注入的敏感度；根据敏感度对所述芯片版图的对应区域进行区分化标记。
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