[发明专利]一种相位梯度超表面单元、超单元以及反射阵列有效

专利信息
申请号: 201610832562.1 申请日: 2016-09-19
公开(公告)号: CN107039771B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 毕科;张家萌;郝亚楠;陈浩;王青敏;许建春 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H01Q15/00 分类号: H01Q15/00;H01Q15/14;H01Q15/24
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100876 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种相位梯度超表面单元、超单元以及反射阵列,超表面单元包括介质板,介质板包括第一正方形表面和与第一正方形表面相对的第二正方形表面,第一正方形表面上设置有S形金属贴片,第二正方形表面上设置有金属接地板。超单元包括2n个超表面单元,其中n为正整数,2n个超表面单元以第一正方形表面为正面顺序排列,2n个超表面单元中的S形金属贴片的缺口距离或缺口方向不同。反射阵列包括多个超单元,所述多个超单元以第一正方形表面为正面顺序排列。本发明实施例提供的相位梯度超表面单元、超单元以及反射阵列,可以提高电磁波调控的反射率,还可以改变电磁波的极化方向,具有极化偏转性能。
搜索关键词: 一种 相位 梯度 表面 单元 以及 反射 阵列
【主权项】:
一种相位梯度超表面单元,其特征在于,包括介质板,所述介质板包括第一正方形表面和与所述第一正方形表面相对的第二正方形表面,所述第一正方形表面上设置有S形金属贴片,所述第二正方形表面上设置有金属接地板。
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