[发明专利]自动测试通道配置装置及其控制方法有效
| 申请号： | 201610857055.3 | 申请日： | 2016-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN107015135B | 公开（公告）日： | 2019-10-08 |
| 发明（设计）人： | 蔡承豪;朱庆华;张友青 | 申请（专利权）人： | 致茂电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;田景宜 |
| 地址： | 中国台湾桃*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动测试通道配置装置及其控制方法，具有多个测试通道、记忆模块、第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块。记忆模块具有多个记忆区块，每一个记忆区块具有测试通道其中之一的多个导通状态值。每一个导通状态值关连于一个测试环境。第一逻辑运算模块依据一个记忆区块中的导通状态值和测试环境选择数据，产生第一控制信号。第二逻辑运算模块依据一个记忆区块中的导通状态值和测试环境维持数据，产生第二控制信号。第二逻辑运算模块依据第一控制信号及第二控制信号，产生第一测试通道控制信号，以选择性地导通第一测试通道。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 通道 配置 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动测试通道配置装置，电性连接一自动测试设备与至少一待测物，该自动测试通道配置装置包括：多个测试通道；一记忆模块，包括对应于该些测试通道的多个记忆区块，每一该记忆区块关连于该些测试通道其中之一，每一该记忆区块包括多个导通状态值，每一该导通状态值关连于多个测试环境其中之一；以及一第一逻辑运算模块，电性连接该记忆模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境选择数据，产生该些测试通道中的一第一测试通道的一第一控制信号，该测试环境选择数据具有多个选择状态值，每一该选择状态值关连于该些测试环境其中之一；一第二逻辑运算模块，电性连接该第一逻辑运算模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境维持数据，产生该第一测试通道的一第二控制信号，该测试环境维持数据具有多个状态维持值，每一该状态维持值关连于该些测试环境其中之一；其特征在于，该第二逻辑运算模块依据该第一控制信号及该第二控制信号，产生一第一测试通道控制信号，以选择性地导通该第一测试通道。
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