[发明专利]用于进行自动测绘与精度测试的系统与方法有效
| 申请号： | 201610858648.1 | 申请日： | 2016-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN106963490B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | S·M·摩根;K·E·贾斯珀森;M·R·维森伯格 | 申请（专利权）人： | 柯惠有限合伙公司 |
| 主分类号： | A61B34/20 | 分类号： | A61B34/20 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 边海梅 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开用于进行自动测绘与精度测试的系统与方法。一种用于对电磁(EM)导航系统进行测绘和精度测试的装置，包括：感测电磁场的电磁矢量的传感器；沿第一方向与不同于第一方向的第二方向移动该传感器的滑架；操作上与该传感器相关联并且检测该传感器沿第一方向的第一方位的第一方位检测器；操作上与该传感器相关联并且检测该传感器沿第二方向的第二方位的第二方位检测器；以及控制器，该控制器操作上与该传感器相关联，并且控制滑架沿第一方向与第二方向的移动，以及基于在坐标系中的预定方位处的所感测的电磁矢量测绘电磁场，该坐标系由第一方向、第二方向及垂直于由第一方向与第二方向限定的平面的第三方向来限定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 进行 自动 测绘 精度 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于对电磁EM导航系统进行测绘和精度测试的装置，包括：被配置来感测由所述EM导航系统生成的EM场的EM矢量的传感器；被配置来沿第一方向与不同于所述第一方向的第二方向移动所述传感器的滑架；第一方位检测器，操作上与所述传感器相关联，并且被配置来检测所述传感器沿所述第一方向的第一方位，其中所述第一方位是沿所述第一方向的预定方位中的一个；第二方位检测器，操作上与所述传感器相关联，并且被配置来检测所述传感器沿所述第二方向的第二方位，其中所述第二方位是沿所述第二方向的预定方位中的一个；以及控制器，操作上与所述传感器相关联，并且被配置来控制所述滑架沿所述第一方向与所述第二方向的移动，以及基于在坐标系中的预定方位处的所感测的EM矢量测绘所述EM场，所述坐标系由所述第一方向、所述第二方向及垂直于由所述第一方向与所述第二方向限定的平面的第三方向来限定，其中沿所述第二方向的所述预定方位包括第一组，并且其中所述传感器被配置来在沿所述第二方向的所述预定方位中的所述第一组处感测用于测绘的EM矢量。
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