[发明专利]校正装置、校正方法及测量系统有效
| 申请号： | 201610873914.8 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN107884099B | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 周荣晖;佩卡·T·西皮拉;吕卓民;付旭 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01L1/12 | 分类号： | G01L1/12;G01L3/00;G01L25/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 侯颖媖 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种校正装置用于校正磁致伸缩传感器，其中，所述磁致伸缩传感器用于测量一物体且其包括与该物体相邻的传感元件。所述校正装置包括估算装置和修正器。所述估算装置被配置成基于所述磁致伸缩传感器的几何信息、激励信号和输出信号，及所述物体的几何信息，估算所述传感元件与所述物体间的间隙及所述物体的温度的至少其中之一，以得到估算间隙和估算温度的至少其中之一。所述修正器被配置成基于所述估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，减少所述间隙和所述温度的至少其中之一的变化对于所述磁致伸缩传感器的输出信号的影响，以得到修正后的输出信号。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 装置 方法 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种用于校正磁致伸缩传感器的校正装置，所述磁致伸缩传感器用于测量一物体且其包括与该物体相邻的传感元件，所述校正装置包括：估算装置，其被配置成基于所述磁致伸缩传感器的几何信息、激励信号和输出信号，及所述物体的几何信息，估算所述传感元件与所述物体间的间隙及所述物体的温度的至少其中之一，以得到估算间隙和估算温度的至少其中之一；修正器，其被配置成基于所述估算间隙和所述估算温度的至少其中之一，减少所述间隙和所述温度的至少其中之一的变化对于所述磁致伸缩传感器的输出信号的影响，以得到修正后的输出信号。
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