[发明专利]一种以绝缘基片为衬底的碳-铝-碳半导体薄膜材料及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610902726.3 申请日: 2016-10-17
公开(公告)号: CN106505046B 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 刘云杰;郝兰众;韩治德;薛庆忠 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: H01L23/14 分类号: H01L23/14;H01L21/02;C23C14/35;C23C14/06;C23C14/18
代理公司: 青岛智地领创专利代理有限公司 37252 代理人: 毛胜昔
地址: 266580 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种以绝缘基片为衬底的碳‑铝‑碳半导体薄膜材料及其制备方法,其为层状结构,由下至上依次为用作衬底的绝缘基片、第一层碳薄膜层、铝中间插层和第二层碳薄膜层;制备方法主要采用直流磁控溅射技术、利用高能电子顺次轰击不同靶材表面:先石墨靶材,在衬底表面上沉积第一层碳薄膜层,后铝金属靶材沉积铝中间插层,最后再石墨靶材沉积第二层碳薄膜层。本发明与纯碳薄膜产品相比,其电子浓度和电子迁移率分别至少提高了6个数量级和1个数量级,电阻率至少降低了4个数量级。本发明的工艺简单、参数控制简便;成品率高、产品质量稳定性与可靠性好,且制造成本低、适于工业化生产。
搜索关键词: 一种 绝缘 衬底 半导体 薄膜 材料 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种以绝缘基片为衬底的碳‑铝‑碳半导体薄膜材料,其特征在于,为复合层结构,由下至上依次包括用作衬底的绝缘基片、第一层碳薄膜层、铝中间插层和第二层碳薄膜层;其中:所述碳薄膜层,其纯度为99.999%;所述铝中间插层,其纯度为99.99%;所述第一层碳薄膜层、铝中间插层和第二层碳薄膜层的厚度分别为20‑80nm、8nm和20‑80nm;所述绝缘基片为玻璃基片、陶瓷基片、石英基片、绝缘Si基片或蓝宝石基片。
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