[发明专利]一种绝缘导热薄膜的制备方法及封装结构有效

专利信息
申请号: 201610906994.2 申请日: 2016-10-18
公开(公告)号: CN106399960B 公开(公告)日: 2019-02-05
发明(设计)人: 吴行阳;吴思伟;杨连乔;张建华;殷录桥;李起鸣;特洛伊·乔纳森·贝克 申请(专利权)人: 上海大学;镓特半导体科技(上海)有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C16/505;H01L23/367
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 余明伟
地址: 200436*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种绝缘导热薄膜的制备方法及封装结构,所述方法包括如下步骤:S1:提供一基板,在所述基板上形成金属单质层;所述金属单质为铝或钛;S2:在所述金属单质层上形成相应金属的掺硅化合物层;S3:在所述掺硅化合物层上形成类金刚石绝缘导热薄膜。本发明结合磁控溅射与射频化学气相沉积技术,在基板上沉积与基板结合力良好的类金刚石绝缘导热薄膜,达到高导热、高绝缘性的效果。本发明制备的类金刚石绝缘导热薄膜可以很好的应用于MPS二极管铜或铝合金基板上,作为封装结构中绝缘和导热散热层来使用,且不局限于MPS二极管铜或铝合金基板上使用,还可以应用于其他类型的需要快速散热并需要绝缘的基板上面,具有广泛的工业前景。
搜索关键词: 一种 绝缘 导热 薄膜 制备 方法 封装 结构
【主权项】:
1.一种绝缘导热薄膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:S1:提供一基板,在所述基板上形成金属单质层;所述金属单质为铝;S2:往反应腔室内通入硅源,同时进行铝靶的磁控溅射,在所述金属单质层上形成铝的掺硅化合物层,所述硅源包括六甲基二硅氧烷或四甲基硅烷;S3:在所述掺硅化合物层上形成类金刚石绝缘导热薄膜。
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