[发明专利]用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备在审
| 申请号： | 201610910524.3 | 申请日： | 2016-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN106562799A | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | 谢思维;黄秋;龚政;赵指向;翁凤花;彭旗宇 | 申请（专利权）人： | 武汉中派科技有限责任公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;G01T1/202;G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙)11481 | 代理人： | 徐丁峰,戴亚南 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备。检测器包括闪烁晶体，其中，闪烁晶体是一体化的闪烁晶体，并且闪烁晶体具有通孔，通孔用于容纳待成像对象；以及至少一个光电传感器阵列，与闪烁晶体耦合，用于检测伽玛光子与闪烁晶体发生反应所产生的可见光子，其中，伽玛光子通过在待成像对象体内发生的正电子湮灭效应产生。根据本发明实施例的检测器使得采用该检测器的正电子发射成像设备的伽玛光子定位精度高、灵敏度高、边缘效应弱、机械设计难度低。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 正电子 发射 成像 设备 检测器 | ||
【主权项】：
一种用于正电子发射成像设备的检测器，包括：闪烁晶体，其中，所述闪烁晶体是一体化的闪烁晶体，并且所述闪烁晶体具有通孔，所述通孔用于容纳待成像对象；以及至少一个光电传感器阵列，与所述闪烁晶体耦合，用于检测伽玛光子与所述闪烁晶体发生反应所产生的可见光子，其中，所述伽玛光子通过在所述待成像对象体内发生的正电子湮灭效应产生。
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