[发明专利]基于垂直导电方向的TiO2‑NiO异质P‑N结所形成光控传输沟道的紫外探测器及其制备方法有效
申请号: | 201610910686.7 | 申请日: | 2016-10-20 |
公开(公告)号: | CN106356421B | 公开(公告)日: | 2018-02-06 |
发明(设计)人: | 阮圣平;张德重;温善鹏;郭文滨;沈亮;董玮;张歆东;孙亮;陈川;刘昕 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | H01L31/109 | 分类号: | H01L31/109;H01L31/18 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司22201 | 代理人: | 刘世纯,王恩远 |
地址: | 130012 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 一种基于垂直导电方向的TiO2‑NiO异质P‑N结所形成光控传输沟道的紫外探测器及其制备方法,属于半导体紫外光电探测技术领域。从下至上依次由衬底、采用溶胶‑凝胶法在衬底上制备的纳米TiO2薄膜、采用蒸镀法在纳米TiO2薄膜上制备的一对Au引线点、采用蒸镀法及控制氧化法在纳米TiO2薄膜表面和Au引线点上制备的Au/Ni叉指电极、采用蒸镀法及控制氧化法在TiO2薄膜表面和Au/Ni叉指电极上制备的NiO薄膜构成,其中NiO薄膜的厚度为20~60nm。叉指电极间形成垂直于器件导电方向的TiO2‑NiO异质P‑N结,在暗态下空间电荷区较宽,器件传输沟道较窄,有效限制暗电流;在紫外光照下,P‑N结内建电场减弱,空间电荷区变窄,光控传输沟道变宽,实现器件的高光电流。 | ||
搜索关键词: | 基于 垂直 导电 方向 tio2 nio 异质 形成 光控 传输 沟道 紫外 探测器 及其 制备 | ||
【主权项】:
一种基于垂直导电方向的TiO2‑NiO异质P‑N结所形成光控传输沟道的紫外探测器,其特征在于:从下至上依次由衬底、采用溶胶‑凝胶法在衬底上制备的纳米TiO2薄膜、采用蒸镀法在纳米TiO2薄膜上制备的一对Au引线点、采用蒸镀法及控制氧化法在纳米TiO2薄膜表面和Au引线点上制备的Au/Ni叉指电极、采用蒸镀法及控制氧化法在TiO2薄膜表面和Au/Ni叉指电极上制备的NiO薄膜构成,其中NiO薄膜的厚度为20~60nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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