[发明专利]具有光偏置的X射线检测器和/或γ检测器在审
| 申请号： | 201610922076.9 | 申请日： | 2016-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN106610499A | 公开（公告）日： | 2017-05-03 |
| 发明（设计）人： | M·比勒;P·比歇尔;R·菲舍尔;O·施密特;S·F·特德 | 申请（专利权）人： | 西门子医疗有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20;G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人： | 王茂华,潘聪 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于X射线和/或γ辐射的检测器，该检测器在电极的情况下包括至少一个辐射源和至少一个中间层，其中，如应用所需的，电极处的陷阱状态以及毫秒范围内的上升时间和衰减时间的中和可以通过对应的布置来实现，并且本发明涉及一种用于制造检测器的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 有光 偏置 射线 检测器 | ||
【主权项】：
一种用于X射线和/或γ辐射的检测器，包括：‑(a)第一辐射源，所述第一辐射源用位于待被检测的波长范围之外的第一辐射来照射第一电触点；‑(b)第一电触点，可选地在衬底上；‑(c)第一中间层；‑(d)第一层，所述第一层吸收所述待被检测的辐射；‑(e)可选地，第二中间层；‑(f)第二电触点；和‑(g)可选地，第二辐射源，所述第二辐射源用位于所述待被检测的波长范围之外的第二辐射来照射第二电触点；其中，所述第一电触点、可选地所述衬底和所述第一中间层、和/或所述第二电触点和所述第二中间层对于所述待被检测的辐射实质上是能透射的，并且所述第一中间层实质上吸收所述第一辐射源的所述第一辐射。
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