[发明专利]用于将成像工具放置在测试和测量工具中的系统和方法有效
| 申请号： | 201610922537.2 | 申请日： | 2016-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN106546792B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | P·A·林斯拉;C·N·休伯;D·N·基尔斯利 | 申请（专利权）人： | 弗兰克公司 |
| 主分类号： | G01R15/12 | 分类号： | G01R15/12;G01R1/04;G01J5/12;G01J5/28;G01J5/04;G01J5/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 周学斌;张涛 |
| 地址： | 美国华*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 分析系统可以包括测试和测量工具以及成像工具两者，所述测试和测量工具用于生成表示被测装置的至少一个参数的测量数据，所述成像工具用于生成表示目标场景的图像数据。电气隔离机构可以使操作分析工具的用户通过成像工具与测试和测量电路电气隔离。电气隔离机构可以包括围绕成像工具的至少一部分并且具有靠近成像工具的开口使得电磁辐射可以通过开口进入并且到达成像工具的绝缘涂层。开口的尺寸可被设置为使得标准手指不能穿过开口到成像工具的预定距离内。另外地或可替代地，定位在开口上方的窗口可以防止通过开口接近成像工具。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 成像 工具 放置 测试 测量 中的 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种分析系统，包括：测试和测量工具，其包括测试和测量电路，所述测试和测量电路被配置为与被测装置相连接以及生成表示被测装置的至少一个参数的测量数据；成像工具，其附接到测试和测量工具，并且被配置为接收来自目标场景的电磁辐射以及生成表示目标场景的图像数据；封闭测试和测量工具以及成像工具的壳体，所述壳体包括用于允许电磁辐射进入壳体以使得成像工具接收电磁辐射的孔；处理器，其与测试和测量工具的测试和测量电路以及成像工具进行通信并且被配置为接收和处理测量数据和图像数据；以及至少一个电气隔离机构，其被配置和布置为使得操作分析工具的用户通过成像工具与测试和测量电路电气隔离。
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