[发明专利]一种SiC或Si图案衬底上生长的粗化倒装GaAs基LED外延片及其制备方法有效
申请号: | 201610937274.2 | 申请日: | 2016-10-25 |
公开(公告)号: | CN106449923B | 公开(公告)日: | 2018-08-17 |
发明(设计)人: | 李志虎;张新;于军;王成新;徐现刚 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/22 | 分类号: | H01L33/22;H01L33/00;H01L33/30 |
代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 杨树云 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种SiC或Si图案衬底上生长的粗化倒装GaAs基LED外延片及其制备方法,自上而下依次包括腐蚀阻挡层、AlInP下限制层、多量子阱发光区、AlInP上限制层、电流扩展层、SiC衬底或Si衬底,所述腐蚀阻挡层上设有凸起结构体及凹陷结构体。凸起结构体或凹陷结构体的设置,增加了表面的粗糙度,提高了倒装GaAs基LED外延片的出光效率,使实际出光率达到90%以上,解决了出光效率低的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 sic si 图案 衬底 生长 倒装 gaas led 外延 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种SiC或Si图案衬底上生长的粗化倒装GaAs基LED外延片的制备方法,自上而下依次包括腐蚀阻挡层、AlInP下限制层、多量子阱发光区、AlInP上限制层、电流扩展层、SiC衬底或Si衬底,所述腐蚀阻挡层上设有凸起结构体及凹陷结构体;其特征在于,具体步骤包括:(1)利用干法刻蚀方法,在原始SiC或Si衬底表面刻蚀,制作SiC或Si图案衬底;(2)在SiC或Si图案衬底表面,由下至上依次生长GaAs低温缓冲层、GaAs高温缓冲层、AlGaInP粗化层、AlInP下限制层、多量子阱发光区、AlInP上限制层和电流扩展层;(3)在电流扩展层上镀一层Al、Au或Ag,得反光金属层,并将反光金属层键合在一个新的SiC或Si衬底上;(4)腐蚀步骤(3)键合好的外延片,剥离原始SiC或Si衬底,腐蚀GaAs低温缓冲层、GaAs高温缓冲层,形成凸起结构体或凹陷结构体,即得。
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