[发明专利]一种集中测试装置、方法及系统有效
| 申请号： | 201610947559.4 | 申请日： | 2016-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN107995054B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 付吉祥;张瑞艳;王大鹏 | 申请（专利权）人： | 中国移动通信有限公司研究院;中国移动通信集团公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26 |
| 代理公司： | 11270 北京派特恩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张颖玲;蒋雅洁 |
| 地址： | 100053 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集中测试装置、方法及系统，其中装置包括：射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集中 测试 装置 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种集中测试装置，其特征在于，所述装置包括：/n射频开关阵列单元，用于从基站的至少一路射频通路中选出至少一路目标测试通路，将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；/n控制单元，用于获取到指令信息，以及基于所述指令信息控制所述射频开关阵列单元选取目标测试通路；/n所述集中测试装置具备前面板；所述集中测试装置的前面板中至少设置有N个仪表连接头；其中，N为2的整数倍；/n相应的，所述射频开关阵列单元，用于通过N个仪表连接头中的至少两个射频接头分别将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至频谱测试仪和/或信号源；/n其中，所述射频开关阵列单元，至少包括：/n第一开关子模块，用于将选出的至少一路目标测试通路中的每一路目标测试通路连接至环形器；/n环形器，用于提供N个测试连接口，以及通过所述N个测试连接口将从所述至少一路射频通路中选出的至少一路目标测试通路连接至所述N个仪表连接头。/n
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