[发明专利]阻抗测量仪器校准方法及装置在审
申请号: | 201610950039.9 | 申请日: | 2016-10-26 |
公开(公告)号: | CN107991637A | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 韩雪竹;韩卫合 | 申请(专利权)人: | 北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 张娜,刘芳 |
地址: | 100871 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提供一种阻抗测量仪器校准方法及装置。该方法包括获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。本发明实施例通过测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值,确定所述阻抗测量仪器是否需要校准,若需要校准时,对所述阻抗测量仪器进行校准处理;若所述阻抗测量仪器无需进行校准时,可以直接投入使用,而无需使用标准空气棒进行校准,减少了标准空气棒的使用次数,节省了使用标准空气棒进行校准的时间,从而可以减少标准空气棒的耗损,降低了校准成本。 | ||
搜索关键词: | 阻抗 测量 仪器 校准 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种阻抗测量仪器校准方法,其特征在于,包括:获取阻抗测量仪器测量标准阻抗条的阻抗得到的阻抗测量值;根据所述阻抗测量值与所述标准阻抗条的阻抗的标准值,判断所述阻抗测量仪器是否需要校准;若需要校准,则对所述阻抗测量仪器进行校准处理。
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