[发明专利]旋转装置有效
申请号: | 201610951636.3 | 申请日: | 2016-11-02 |
公开(公告)号: | CN107039320B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 清原恒成;久保徹雄 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/683 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;于靖帅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供旋转装置,其具有:保持机构,其使3个保持爪(311)与晶片外周接触并对晶片进行保持;自旋旋转机构(4),其具有使保持机构(3)以旋转轴(40a)为轴而旋转的旋转驱动部;和判断单元(5),其对晶片中心是否与旋转轴的轴心一致进行判断,保持机构具有输出部(36a~36c),它们进行根据保持爪的位置的输出,判断单元具有:存储部(50a~50c),它们对当3个保持爪所保持的晶片的中心与旋转轴的轴心一致时的来自与各个保持爪对应的输出部的各个输出值进行存储;和判断部(51),其根据旋转轴以规定的角度进行了旋转时的各个输出值是否与存储部所存储的3个保持爪的输出值(D1a~D1c)一致来判断晶片的偏移。 | ||
搜索关键词: | 旋转 装置 | ||
【主权项】:
一种旋转装置,该旋转装置具有保持机构以及自旋旋转机构,其中,该保持机构使至少3个保持爪与晶片的外周接触而对晶片进行保持,该自旋旋转机构具有旋转驱动部,该旋转驱动部使该保持机构以自旋旋转轴为轴而旋转,其中,该旋转装置具有判断单元,该判断单元对晶片的中心是否与该自旋旋转轴的轴心一致进行判断,该保持机构具有输出部,该输出部进行根据保持爪的位置的输出,该判断单元具有:存储部,其对当至少3个保持爪所保持的晶片的中心与该自旋旋转轴的轴心一致时的来自与各个该保持爪对应的各个输出部的输出值进行存储;以及判断部,其根据该自旋旋转轴以规定的角度进行了旋转时的该输出部的输出值是否与该存储部所存储的保持爪的输出值一致来判断晶片的偏移。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造