[发明专利]分析集成电路中的电迁移规则违反的方法在审
| 申请号： | 201610996711.8 | 申请日： | 2016-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN107871031A | 公开（公告）日： | 2018-04-03 |
| 发明（设计）人： | 罗婉瑜;王中兴;林晋申;杨国男 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司32243 | 代理人： | 顾伯兴 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种分析集成电路中的电迁移规则违反的方法包含接收输入，所述输入呈电子文件格式且包含与集成电路(IC)布局相关联的信息；从输入选择IC布局的不遵守EM规则的金属线，所述不遵守电迁移(EM)规则的金属线违反EM规则；从输入获得不遵守EM规则的金属线的电流；比较所述电流与阈值电流；以及基于比较的结果确定EM规则违反是否可忽略。因此，可在确定EM规则违反为可忽略的时从IC布局制造半导体装置。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 集成电路 中的 迁移 规则 违反 方法 | ||
【主权项】：
一种分析集成电路中的电迁移规则违反的方法，其包括：接收输入，所述输入呈电子文件格式且包含与集成电路布局相关联的信息；从所述输入选择所述集成电路布局的不遵守电迁移规则的金属线，所述不遵守电迁移规则的金属线违反电迁移规则；从所述输入获得所述不遵守电迁移规则的金属线的电流；比较所述电流与阈值电流；以及基于比较的结果确定所述电迁移规则违反是否可忽略。
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