[发明专利]一种微波探测元件以及微波探测器有效

专利信息
申请号: 201611004502.7 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN108075034B 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 方彬;唐伟;罗鑫;熊荣欣;蔡佳林;曾中明;张宝顺 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L43/00 分类号: H01L43/00;H01L43/08
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种微波探测元件,包括相对设置的绝缘层和第一磁性层;绝缘层施加有偏置电压时,绝缘层的邻近于第一磁性层的界面产生电场或发生应力形变,以改变第一磁性层的磁性。根据本发明的微波探测元件基于电场调控,利用各向异性磁电阻效应或巨磁电阻效应,实现微波探测。根据本发明的微波探测元件,在微波探测的过程中,采用电场作用而非电流作用,可以有效降低器件功耗,且具有尺寸小、功耗低、灵敏度高的优点,可以实现高信噪比的微波探测;与此同时,其可在常温下工作,对探测方式没有限制,可以广泛地应用于微波输能、多路通信等领域。本发明还公开了具有上述微波探测元件的微波探测器。
搜索关键词: 一种 微波 探测 元件 以及 探测器
【主权项】:
1.一种微波探测元件,其特征在于,包括叠层设置的绝缘层和第一磁性层;所述绝缘层在施加有偏置电压时,所述绝缘层的邻近所述第一磁性层的界面产生电场或发生应力形变,以改变所述第一磁性层的磁性。
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