[发明专利]用于测量高能光子到达时间的方法及装置有效
| 申请号： | 201611004839.8 | 申请日： | 2016-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN106443747B | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 龚政;赵指向;许剑锋;翁凤花;黄秋 | 申请（专利权）人： | 中派科技（深圳）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01T1/00 | 分类号： | G01T1/00;H05G1/26 |
| 代理公司： | 北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙) 11481 | 代理人： | 徐丁峰;戴亚南 |
| 地址： | 518063 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测量高能光子到达时间的方法和装置。该方法包括：获取与光电传感器阵列中的每个传感器单元所检测到的、高能光子与闪烁晶体发生反应所产生的可见光子相关的到达时间，其中，闪烁晶体是连续晶体，光电传感器阵列包括与闪烁晶体耦合的多个传感器单元；至少基于与光电传感器阵列中的每个传感器单元所检测到的可见光子相关的到达时间，获得与光电传感器阵列中的选定的至少部分传感器单元中的每一个分别对应的待平均时间；以及对与至少部分传感器单元中的每一个分别对应的待平均时间求平均，以获得高能光子的到达时间。根据本发明实施例的方法和装置，通过对针对多个传感器单元获得的待平均时间求平均，可以获得较高的时间分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 高能 光子 到达 时间 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测量高能光子到达时间的方法，包括：获取与光电传感器阵列中的每个传感器单元所检测到的、高能光子与闪烁晶体发生反应所产生的可见光子相关的到达时间，其中，所述闪烁晶体是连续晶体，所述光电传感器阵列包括与所述闪烁晶体耦合的多个传感器单元；至少基于与所述光电传感器阵列中的每个传感器单元所检测到的可见光子相关的到达时间，获得与所述光电传感器阵列中的选定的至少部分传感器单元中的每一个分别对应的待平均时间；以及对与所述至少部分传感器单元中的每一个分别对应的待平均时间求平均，以获得所述高能光子的到达时间。
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