[发明专利]用于监控构件的系统和方法在审

专利信息
申请号: 201611007371.8 申请日: 2016-11-16
公开(公告)号: CN106908005A 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: B.A.尼克尔斯;P.G.博加帕;B.J.杰曼;J.L.伯恩赛德;G.L.霍维斯 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 严志军,傅永霄
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种用于监控构件(10)的系统(200)和方法(300)。构件(10)具有外部表面(11)和构造在该构件(10)上的表面特征(40)。系统(200)包括用于分析该表面特征(40)的数据采集装置(140)。系统(200)还包括用于使数据采集装置(140)和表面特征(40)对齐的对齐组件(210)。对齐组件(210)包括可构造在构件(10)上的目标特征(212)和与数据采集装置(140)一起构造的导引特征(214)。导引特征(214)与目标特征(212)的对齐使数据采集装置(140)和表面特征(40)对齐。
搜索关键词: 用于 监控 构件 系统 方法
【主权项】:
一种用于监控构件(10)的系统(200),所述构件(10)具有外部表面(11)和构造在所述构件(10)上的表面特征(40),所述系统(200)包括:数据采集装置(140),其用于分析所述表面特征(40);以及对齐组件(210),其用于对齐所述数据采集装置(140)和所述表面特征(40),所述对齐组件(210)包括可构造在所述构件(10)上的目标特征(212)和与所述数据采集装置(140)一起构造的导引特征(214),其中所述导引特征(214)与所述目标特征(212)的对齐使所述数据采集装置(140)和所述表面特征(40)对齐。
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