[发明专利]EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201611019471.2 | 申请日： | 2016-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN106680618A | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 汪桃林;范凤军;陈斌;谢恒贵;马秋萍;戴利剑;曹焕丽 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所;上海航天探维传媒科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心31107 | 代理人： | 余岢 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了EMI测量系统脉冲强度测量装置及测量方法，本发明公开的EMI测量系统脉冲强度测量装置包括：宽带衰减器、宽带示波器、PC机；宽带衰减器对脉冲信号作衰减处理；宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号；PC机控制宽带示波器自动截取单脉冲波形，并计算脉冲强度。通过本发明可以快速测量脉冲强度参数。 | ||
| 搜索关键词： | emi 测量 系统 脉冲 强度 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
EMI测量系统脉冲强度测量装置，其特征在于，包括：宽带衰减器、宽带示波器、PC机；宽带衰减器对脉冲信号作衰减处理；宽带示波器采集衰减处理后的脉冲信号，保留脉冲信号丰富的频谱信息；PC机控制宽带示波器自动截取脉冲波形数据。
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