[发明专利]物品检测方法、装置和系统在审

专利信息
申请号: 201611022349.0 申请日: 2016-11-17
公开(公告)号: CN108072909A 公开(公告)日: 2018-05-25
发明(设计)人: 张兆宇;底欣;田军;吴杰 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01V3/12 分类号: G01V3/12
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 陶海萍
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明实施例提供一种物品检测方法,装置和系统,其中,该物品检测方法包括:向待检测物品发送发射信号,并接收该发射信号经待检测物品后的接收信号;计算该接收信号的第一特性,并与基于该第一特性对物品进行分组所获得的物品组的分组数据进行比较,确定该待检测物品所属的物品组;根据该物品组的特征确定用来检测该待检测物品的该接收信号的第二特性,并根据该第二特性确定该待检测物品。这样,先基于第一特征确定待检测物品所属物品组,再根据第二特性确定待检测物品,通过这种级联式的检测,能够提高物品的检测精度,并且通过这种非接触式的检测方式可以提升便利性,缩短检测时间,同时降低检测成本。
搜索关键词: 待检测物品 物品组 检测 物品检测 发射信号 特性确定 特征确定 非接触式 分组数据 便利性 级联式 发送 分组
【主权项】:
1.一种物品检测装置,其中,所述装置包括:收发单元,其用于向待检测物品发送发射信号,并接收所述发射信号经待检测物品后的接收信号;第一确定单元,其用于计算所述接收信号的第一特性,并与基于所述第一特性对物品进行分组所获得的物品组的分组数据进行比较,确定所述待检测物品所属的物品组,所述物品组包括至少一种物品;第二确定单元,其用于根据所述物品组的特征确定用来检测所述待检测物品的所述接收信号的第二特性,并根据所述第二特性确定所述待检测物品;其中,所述第一特性和所述第二特性不同,包括以下特性之一:反射信号的幅值、透射信号的幅值、反射信号中由所述物品表面反射引起的相位变化量、反射信号幅值的改变。
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