[发明专利]一种半导体工艺水保温系统有效
申请号: | 201611026565.2 | 申请日: | 2016-11-15 |
公开(公告)号: | CN108074837B | 公开(公告)日: | 2019-11-12 |
发明(设计)人: | 郭聪;张怀东 | 申请(专利权)人: | 沈阳芯源微电子设备股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 汪海 |
地址: | 110168 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及半导体生产领域,具体地说是一种半导体工艺水保温系统,其中换热装置、换热块、药阀组件以及输出端块上均设有保温水通道和工艺水通道,且所述各部件内的保温水通道依次连通、所述各部件内的工艺水通道依次连通,另外换热块、药阀组件以及输出端块之间依次通过双层保温套管相连,双层保温套管内部设有内层流道和外层流道,换热块、药阀组件和输出端块内的工艺水通道通过所述内层流道依次连通,换热块、药阀组件和输出端块内的保温水通道通过所述外层流道依次连通,热交换器上的保温水出水端口与换热装置内的保温水通道入口相连,输出端块内的保温水通道出口与热交换器上的保温水回水端口相连。本发明能保证工艺水的温度均匀性。 | ||
搜索关键词: | 保温水 输出端 依次连通 换热块 药阀 工艺水通道 半导体工艺 保温系统 换热装置 内层流道 热交换器 双层保温 外层流道 套管 温度均匀性 出水端口 通道出口 通道入口 回水 工艺水 半导体 保证 | ||
【主权项】:
1.一种半导体工艺水保温系统,其特征在于:包括热交换器(3)、换热装置(6)、换热块(8)、药阀组件(9)、输出端块(10)和双层保温套管(18),其中所述换热装置(6)、换热块(8)、药阀组件(9)以及输出端块(10)上均设有相互独立的保温水通道和工艺水通道,且各部件内的保温水通道依次连通、各部件内的工艺水通道依次连通,其中所述换热块(8)、药阀组件(9)以及输出端块(10)之间依次通过双层保温套管(18)相连,所述双层保温套管(18)内部设有相互独立的内层流道和外层流道,所述换热块(8)、药阀组件(9)和输出端块(10)内的工艺水通道通过双层保温套管(18)的内层流道依次连通,所述换热块(8)、药阀组件(9)和输出端块(10)内的保温水通道通过双层保温套管(18)的外层流道依次连通,所述热交换器(3)上的保温水出水端口通过管路与所述换热装置(6)内的保温水通道入口相连,所述换热装置(6)内的工艺水通道与一个工艺水入水管路(5)相连,且工艺水由所述输出端块(10)内的工艺水通道流出,所述输出端块(10)内的保温水通道出口则通过管路与所述热交换器(3)上的保温水回水端口相连;所述药阀组件(9)包括进水块(13)、药阀(15)、出水块(17)和安装座(12),其中所述进水块(13)、药阀(15)和出水块(17)均设置于安装座(12)上方,在所述进水块(13)和出水块(17)内均设有相互独立保温水流道和工艺水流道,且所述进水块(13)内的工艺水流道、药阀(15)以及出水块(17)内的工艺水流道依次相通形成所述药阀组件(9)的工艺水通道,所述安装座(12)内设有保温水流道,且所述进水块(13)、安装座(12)和出水块(17)内的保温水流道依次相通形成所述药阀组件(9)的保温水通道。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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