[发明专利]一种基于非均匀傅里叶变换的干涉合成孔径显微方法在审
申请号: | 201611027846.X | 申请日: | 2016-11-18 |
公开(公告)号: | CN108072614A | 公开(公告)日: | 2018-05-25 |
发明(设计)人: | 高万荣;张运旭;伍秀玭 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/47 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 薛云燕 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于非均匀傅里叶变换的干涉合成孔径显微方法,包括:步骤1、光谱仪测得的干涉信号为波长空间的均匀采样结果,对该结果进行重采样使干涉信号从波长空间转换到波数空间,得到在波数空间均匀分布的干涉信号数据;步骤2、将步骤1得到的干涉信号数据,在x轴、y轴方向进行二维傅里叶变换转换到频域;步骤3、对步骤2所得频域的干涉信号进行匹配滤波;步骤4、将干涉信号滤波后的数据,进行三维方向的非均匀傅里叶逆变换转换到空间域;步骤5、对空间域所得结果进行图像增强,最终得到重构的图像结果。本发明在所有成像深度中都可以获得焦平面处的横向分辨率,提高了重构图像的质量。 | ||
搜索关键词: | 干涉信号 非均匀 傅里叶变换 波长空间 波数空间 合成孔径 空间域 频域 显微 转换 二维傅里叶变换 傅里叶逆变换 横向分辨率 均匀采样 匹配滤波 三维方向 图像结果 图像增强 重构图像 光谱仪 焦平面 重采样 重构的 干涉 滤波 成像 | ||
【主权项】:
1.一种基于非均匀傅里叶变换的干涉合成孔径显微方法,其特征在于:包括以下几个步骤:步骤1、光谱仪测得的干涉信号为波长空间的均匀采样结果,对该结果进行重采样使干涉信号从波长空间转换到波数空间,得到在波数空间均匀分布的干涉信号数据;步骤2、将步骤1得到的干涉信号数据,在x轴、y轴方向进行二维傅里叶变换转换到频域;步骤3、对步骤2所得频域的干涉信号进行匹配滤波;步骤4、将干涉信号滤波后的数据,进行三维方向的非均匀傅里叶逆变换转换到空间域;步骤5、对空间域所得结果进行图像增强,最终得到重构的图像结果。
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