[发明专利]一种硅基遂穿场效应晶体管结构在审

专利信息
申请号: 201611072440.3 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN106783967A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 刘丽蓉;王勇;丁超 申请(专利权)人: 东莞市广信知识产权服务有限公司;东莞华南设计创新院
主分类号: H01L29/165 分类号: H01L29/165;H01L29/739
代理公司: 广东莞信律师事务所44332 代理人: 曾秋梅
地址: 523000 广东省东莞市松山湖高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种硅基遂穿场效应晶体管结构,其包括一半绝缘硅衬底片,一N型掺杂的硅半导体层,一P型掺杂的硅锗半导体层,一氧化硅绝缘层,一位于N型掺杂的硅半导体层和P型硅锗层之间的栅介质层,一钨硅合金栅金属电极,一在N型掺杂的硅半导体层上形成的漏端金属电极,一在P型掺杂的硅锗半导体层上形成的源端金属电极。
搜索关键词: 一种 硅基遂穿 场效应 晶体管 结构
【主权项】:
一种硅基遂穿场效应晶体管器件结构,其包括如下:一半绝缘硅衬底片;一N型掺杂的硅半导体层;一P型掺杂的硅锗半导体层;一氧化硅绝缘层;一位于N型掺杂的硅半导体层和P型硅锗层之间的栅介质层;一在栅介质层上,依托氧化硅绝缘层,采用侧墙工艺形成的钨硅合金栅金属电极;一在N型掺杂的硅半导体层上形成的漏端金属电极;一在P型掺杂的硅锗半导体层上形成的源端金属电极。
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