[发明专利]挑选测试用屏方法及装置

摘要

本发明公开一种挑选测试用屏方法，所述方法包括：获取所有类型待测试屏的性能参数，将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合，将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合；获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数；获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量，并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值；根据所述比值，从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏，其中所述比值越大，挑选优先级越高。本发明的方案根据各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值大小，确定目标测试屏，避免对屏一一测试的费时费力和主观选取屏测试的不彻底性。

主权项

1.一种挑选测试用屏方法，其特征在于，所述挑选测试用屏方法包括以下步骤：获取所有类型待测试屏的性能参数，将各个类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数子集合，将所有类型待测试屏的性能参数组成的集合作为参数总集合；获取所有与参数子集合对应待测试屏的测试成本参数；获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量，并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值；根据所述比值，从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏，其中所述比值越大，挑选优先级越高；其中，所述根据所述比值，从所有类型待测试屏中挑选出目标测试用屏的步骤之后包括：控制去除参数总集合中所包含的目标测试用屏的性能参数；判断去除目标测试用屏的性能参数后的参数总集合中是否至少包含一个性能参数；若是，则执行获取各个参数子集合与参数总集合的交集中性能参数的交集参数数量，并获取各个参数子集合的交集参数数量与对应测试成本参数的比值的步骤，直到参数总集合不包括任何性能参数。