[发明专利]一种确定被测物电磁性能的测试装置有效
| 申请号： | 201611088914.3 | 申请日： | 2016-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108132388B | 公开（公告）日： | 2019-12-06 |
| 发明（设计）人： | 韩栋 | 申请（专利权）人： | 深圳市新益技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R1/04 |
| 代理公司： | 11508 北京维正专利代理有限公司 | 代理人： | 杨春女<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙华区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种确定被测物电磁性能的测试装置，旨在解决现有技术中平面近场测试中还没有使用过采样技术，测量过程繁琐、测量精度低，其技术方案要点是：一种确定被测物电磁性能的测试装置，包括箱体、载物台、支架，所述支架包括立架和滑移杆，沿所述滑移杆的轴线方向设有多个探头；还包括用于驱动所述滑移杆沿所述立架移动的横向驱动装置和用于驱动多个所述探头同时沿所述滑移杆的轴线方向移动的轴向驱动装置。本发明的测试装置使用多探头，每次进行平面上多个点的扫描，通过两种位移装置，提供迅速构建平面场的快速扫描方法，具有能实现对被测物的过采样、采样过程更加简单方便、采样的数据点分布的更加密集、检测结果更加可靠等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测试装置 被测物 滑移杆 电磁性能 过采样 探头 立架 支架 横向驱动装置 技术方案要点 轴线方向移动 轴向驱动装置 驱动 采样过程 测量过程 检测结果 近场测试 快速扫描 位移装置 轴线方向 多探头 平面场 数据点 载物台 中平面 采样 构建 测量 扫描 移动 | ||
【主权项】：
1.一种确定被测物电磁性能的测试装置，包括载物台(2)和支架(3)，其特征在于：所述支架(3)包括设置在所述载物台(2)两侧的立架(31)和滑移连接于所述立架(31)且能够形成覆盖所述载物台(2)的滑移面的滑移杆(32)，沿所述滑移杆(32)的轴线方向设有多个探头(4)；还包括用于驱动所述滑移杆(32)沿所述立架(31)移动的横向驱动装置和用于驱动多个所述探头(4)同时沿所述滑移杆(32)的轴线方向移动的轴向驱动装置(6)，所述滑移杆(32)包括外杆(321)、滑动套接在所述外杆(321)内用于固定多个所述探头(4)的内杆(322)、以及开设在所述外杆(321)上供所述探头(4)滑移的滑槽(323)，所述滑移杆(32)上设有用于限制所述内杆(322)滑移距离的限位组件，所述限位组件包括开设在所述外杆(321)上的安装槽(81)、滑动连接在所述安装槽(81)内限位块(82)、形成于所述限位块(82)上面向所述立架(31)一侧的滑移斜面(83)、两端分别固定于所述限位块(82)和所述安装槽(81)底壁且始终处于压缩状态的第一弹性件(84)、以及开设在所述内杆(322)上的限位槽(85)，且当位于最外侧的所述探头(4)靠近所述立架(31)时，所述限位块(82)嵌入所述限位槽(85)内。/n
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