[发明专利]待测器件的延迟测量电路及延迟测量方法有效

专利信息
申请号: 201611089103.5 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN108134594B 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 胡军 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H03K5/13 分类号: H03K5/13
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张振军;吴敏
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种待测器件的延迟测量电路及延迟测量方法,延迟测量电路包括环路振荡器和周期测量单元;所述周期测量单元适于测量所述环路振荡器的振荡周期,并根据所述环路振荡器的振荡周期得到所述待测器件的延迟;所述环路振荡器包括至少五个直接或间接串联成环的振荡单元,每一个所述振荡单元包括待测器件、前置开关和旁路开关;其中,在一组控制信号的作用下,所述环路振荡器中的各个前置开关和旁路开关导通或者关断,使得所述环路振荡器中的振荡单元中的待测器件串联形成振荡环路,并且受控串联于所述振荡环路中的各个振荡单元中,所述前置开关和旁路开关有且仅有一个导通。本发明实施例的延迟测量电路可以大大提高对待测器件的延迟测量精度。
搜索关键词: 器件 延迟 测量 电路 测量方法
【主权项】:
一种待测器件的延迟测量电路,其特征在于,包括:环路振荡器,所述环路振荡器包括至少五个直接或间接串联成环的振荡单元,其中一个振荡单元的输出端耦接所述环路振荡器的输出端;其中,每一个所述振荡单元包括待测器件、前置开关和旁路开关,所述待测器件的输入端耦接所述振荡单元的输入端,所述待测器件的输出端经由所述前置开关耦接所述振荡单元的第一输出端,所述振荡单元的第一输出端耦接后一级振荡单元的输入端,所述旁路开关的第一端耦接所述待测器件的输出端,所述旁路开关的第二端耦接所述振荡单元的第二输出端,所述振荡单元的第二输出端耦接后一级振荡单元的第一输出端;周期测量单元,耦接所述环路振荡器的输出端,适于测量所述环路振荡器的振荡周期,并根据所述环路振荡器的振荡周期得到所述待测器件的延迟;其中,在一组控制信号的作用下,所述环路振荡器中的各个前置开关和旁路开关导通或者关断,使得所述环路振荡器中的振荡单元中的待测器件串联形成振荡环路且满足环路振荡器的起振条件,并且受控串联于所述振荡环路中的各个振荡单元中,所述前置开关和旁路开关有且仅有一个导通。
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