[发明专利]用于外形尺寸的光学测量方法和测量装置在审
| 申请号： | 201611121014.4 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN106885522A | 公开（公告）日： | 2017-06-23 |
| 发明（设计）人： | 三木豊 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01B11/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人： | 曲莹 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了用于外形尺寸的光学测量方法和测量装置。光发射器和反射器布置为使得测量光束的光轴和反射光束的光轴相交，并且测量光束和反射光束形成在同一个虚拟测量平面内；在测量光束中限定第一测量光束和第二测量光束；在反射光束中限定第一和第二反射光束；被测物体被置于测量平面内的测量区中，第一和第二测量光束在该测量区中交叠；根据显现在第一反射光束中的阴影测量被测物体的第一方向上的外径，并根据显现在第二反射光束中的阴影测量被测物体的第二方向上的外径。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 外形尺寸 光学 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种用于测量被测物体的外形尺寸的光学测量方法，该方法包括：提供发射由平行光束构成的带状测量光束的光发射器，其中在该测量光束中至少限定主测量光束和次测量光束；提供反射测量光束并形成反射光束的反射器，其中在反射光束中至少限定主反射光束和次反射光束，所述主反射光束是主测量光束的反射光，所述次反射光束是次测量光束的反射光；提供接收反射光束的光接收器；将光发射器和反射器布置为使得测量光束的光轴和反射光束的光轴相交；在同一个测量平面内形成测量光束和反射光束；将被测物体置于测量平面内的测量区中，主测量光束和次反射光束在该测量区中交叠；根据显现在主反射光束中的被测物体的阴影测量被测物体的主方向上的外形尺寸；和根据显现在次反射光束中的被测物体的阴影测量被测物体的次方向上的外形尺寸。
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