[发明专利]一种射频器件的调试方法有效
| 申请号： | 201611121785.3 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN106602202B | 公开（公告）日： | 2019-03-12 |
| 发明（设计）人： | 欧勇盛;王志扬;江国来;杨镜锋;孟令江;吕琴;冯伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | H01P11/00 | 分类号： | H01P11/00 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 李庆波 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种射频器件的调试方法，包括：对调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合，其中每一螺杆位置组合中包括分别对应于每一调谐螺杆的待调试位置；按照每一螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的射频器件的第一调试波形；计算每一螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据相似度设置对应的螺杆位置组合的权重值，其中相似度越大，对应的螺杆位置组合的权重值越高；根据权重值和螺杆位置组合对每一调谐螺杆的目标位置进行估算。通过上述方式，能够有效降低对人工经验的依赖度、提高调试效率，同时具有极强的普适性和泛化性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 器件 调试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种射频器件的调试方法，所述射频器件包括至少一调谐螺杆，其特征在于，所述方法包括：对所述调谐螺杆的螺杆位置的搜索空间进行采样，进而获得多组螺杆位置组合，其中每一所述螺杆位置组合中包括分别对应于每一所述调谐螺杆的待调试位置；按照每一所述螺杆位置组合中的待调试位置分别对对应的所述调谐螺杆进行位置调整，并获取调整后的所述射频器件的第一调试波形；计算每一所述螺杆位置组合所对应的第一调试波形与目标波形的相似度，并根据所述相似度设置对应的所述螺杆位置组合的权重值，其中所述目标波形为用于表征所述射频器件满足调试要求的波形，所述相似度越大，对应的所述螺杆位置组合的权重值越高；根据所述权重值和所述螺杆位置组合对每一所述调谐螺杆的目标位置进行估算。
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