[发明专利]酰氯化分离/ICP‑MS法测定高纯铬中痕量杂质元素含量的方法在审
| 申请号： | 201611134164.9 | 申请日： | 2016-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN106596700A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 王金磊;李波;钱军民;罗琳;孙宝莲;刘雷雷;禄妮 | 申请（专利权）人： | 西北有色金属研究院 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 西安创知专利事务所61213 | 代理人： | 谭文琰 |
| 地址： | 710016*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种酰氯化分离/ICP‑MS法测定高纯铬中痕量杂质元素含量的方法，该方法为首先采用盐酸溶解高纯铬样品，其次利用高纯铬样品与高氯酸、盐酸反应生成的酰氯铬具有低沸点的特性分离基体，然后采用电感耦合等离子体质谱仪测定高纯铬样品中杂质元素的含量；所述杂质元素为Al、Cu、Mn、Ni、Zn、Rb、Bi、Sn、Sb、V和Ti。本发明测量高纯铬中痕量杂质元素的方法简单，应用酰氯化分离基体和ICP‑MS法相结合，能有效消除基体干扰以及基体残留，测量方法快速、准确，精密度和加标回收率较好，能完全满足高纯铬中痕量杂质的测定要求。 | ||
| 搜索关键词： | 氯化 分离 icp ms 测定 高纯 痕量 杂质 元素 含量 方法 | ||
【主权项】：
一种酰氯化分离/ICP‑MS测定高纯铬中痕量杂质元素含量的方法，其特征在于，该方法为：首先采用盐酸溶解高纯铬样品，其次利用高纯铬样品与高氯酸、盐酸反应生成的酰氯铬具有低沸点的特性分离基体，然后采用电感耦合等离子体质谱仪测定高纯铬样品中杂质元素的含量。
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