[发明专利]韦布尔杂波环境下基于偏斜度的恒虚警检测方法有效

专利信息
申请号: 201611140540.5 申请日: 2016-12-12
公开(公告)号: CN108614244B 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 张仁李;于张杰;盛卫星;韩玉兵;马晓峰 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01S7/36 分类号: G01S7/36
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 王玮
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种韦布尔杂波环境下基于偏斜度的恒虚警检测方法。对韦布尔分布杂波参考单元进行对数变换,其分布转变为Gumbel分布。对于独立同分布的Gumbel分布参考单元,其偏斜度为一常数,当参考滑窗中参考单元数量确定后,设定偏斜度门限,计算参考单元的统计量偏斜度,若偏斜度大于偏斜度门限,认为参考单元中存在干扰目标,且干扰目标为参考滑窗中幅度最大的参考单元,将其从参考滑窗中剔除。参考滑窗中存在干扰目标的判断与剔除策略按照上述方法进行迭代处理,直至不存在干扰目标。使用剩余参考单元采用Log‑T CFAR门限计算方法计算检测门限,从而判断是否存在干扰目标。本发明极大地提升了目标的检测性能。
搜索关键词: 布尔 环境 基于 偏斜 恒虚警 检测 方法
【主权项】:
1.一种韦布尔杂波环境下基于偏斜度的恒虚警检测方法,其特征在于包括以下步骤:步骤一:将雷达接收的数据传入匹配滤波器和动目标检测处理器中,处理后输出数据为由幅度、相位信息所组成的复数,将输出数据进行包络检波处理;步骤二:将包络检波器输出送入对数放大器,获得的序列Y1,...,YN,利用对数放大器输出结果进行恒虚警检测,在初始时刻恒虚警检测器参考滑窗中参考单元数量为N,经排列后序列为Z1,...,ZN,其中Z1≤Z2≤...≤ZN;步骤三:记对参考滑窗中的参考单元计算统计量偏斜度SK,将SK与偏斜度门限TSK_N进行比较,若SK
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