[发明专利]用于离散量信号处理芯片的自检方法

摘要

本发明涉及芯片可靠性设计中的方法。针对芯片设计中因引脚有限、小型化要求等限制，内部很多关键电路难以测试和检测，当多路离散量信号处理时电路复杂，出现故障时难以快速有效定位问题，提出了一种自定义的高可靠性自测试电路，达到上电自测试的目的。一种用于离散量信号处理芯片的自检方法，当电路上电启动时对内部的基准模块、比较器及输出通路进行检测，当输出数据与预期一致时电路可进入正常工作模式，当输出数据与预期不一致时通过fault信号指示出来，数据输出端口相应的指示具体的哪一路信号出错发起自检，分别包括“0/1”和“1/0”两种方式。本发明提出的自检电路减少外围电路的硬件开销，并且不会对芯片内部电路产生误操作和干扰。

主权项

1.一种用于离散量信号处理芯片的自检方法，其特征在于，当电路上电启动时对内部的基准模块、比较器及输出通路进行检测，当输出数据与预期一致时电路可进入正常工作模式，当输出数据与预期不一致时通过fault信号指示出来，数据输出端口相应的指示具体的哪一路信号出错发起自检，分别包括“0/1”和“1/0”两种方式，具体包括下列步骤，“0/1”自检按照以下步骤进行：1)“0/1”自检寄存器位配置成功后，发出自检使能信号(test_en＝1)，并屏蔽离散量输入端口；2)启动低边自检使能(test_lo＝1)，同时发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；3)若输出数据td不全部为“0”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<7:0>数据全部为“0”，表示自检数据正确，可进行下一步；4)发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；5)若输出数据td不全部为“1”，fault引脚为“1”，终止自检；若输出数据td<7:0>全部为“1”，表示自检数据正确，可进行下一步；6)启动高边自检使能(test_hi＝1)，同时发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；7)重复步骤3)，4)和5)一次，之后进行下一步；8)将fault引脚置为“0”，表示此次自检无错，设置“0/1”＝0；“1/0”自检按照以下步骤进行：1)“1/0”自检寄存器位配置成功后，发出自检使能信号(test_en＝1)，并封锁离散量输入端口；2)启动低边自检使能(test_lo＝1)，同时发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；3)若输出数据td<7:0>不全部为“1”，则将fault引脚置为“1”，终止自检；若输出数据td<7:0>全部为“1”，表示自检数据正确，可进行下一步；4)发出“0”自检控制信号(test_sel0_reg＝1，test_sel1_reg＝0)；5)若输出数据td<7:0>不全部为“0”，fault引脚为“1”，终止自检；若输出数据td<7:0>全部为“0”，表示自检数据正确，可进行下一步；6)启动高边自检使能(test_hi＝1)，同时发出“1”自检控制信号(test_sel0_reg＝0，test_sel1_reg＝1)；7)重复步骤3)，4)和5)一次，之后进行下一步；8)将fault引脚置为“0”，表示此次自检无错，设置“1/0”＝0。