[发明专利]具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法

摘要

本发明公开一种具自我检测功能的测试电路板及其自我检测方法，通过联合测试工作组芯片以进行待测试电路板的检测以及测试电路板的自我检测，在自我测试通过时，再将第一联合测试工作组接口以及第二联合测试工作组接口通过控制器、数据多工器、开关芯片导通以串接测试电路板，藉此可以达成提供方便且快速解决串接联合测试工作组芯片自我故障检测的技术功效。

主权项

1.一种具自我检测功能的测试电路板，其特征在于，包含：一第一联合测试工作组接口，用以与联合测试工作组控制器或是其他的所述测试电路板电性连接，所述第一联合测试工作组接口包含一第一测试时钟引脚、一第一测试模式选择引脚、一第一测试数据输入引脚以及一第一测试数据输出引脚；一联合测试工作组芯片，所述联合测试工作组芯片与所述第一测试时钟引脚、所述第一测试模式选择引脚以及所述第一测试数据输入引脚电性连接，联合测试工作组控制器控制所述联合测试工作组芯片以进行所述测试电路板的自我检测，以及当所述联合测试工作组芯片通过所述测试电路板的自我检测时产生一通讯信号；一控制器，所述控制器与所述联合测试工作组芯片电性连接；一数据多工器，所述数据多工器与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚以及所述控制器电性连接，在预设设定中，所述第一测试数据输出引脚通过所述数据多工器与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚电性连接；一开关芯片，所述开关芯片与所述第一测试数据输出引脚、所述控制器、所述数据多工器电性连接；一缓冲寄存器，所述缓冲寄存器与所述第一测试时钟引脚以及所述第一测试模式选择引脚电性连接；一第二联合测试工作组接口，用以与其他的所述测试电路板的所述第一联合测试工作组接口电性连接，所述第二联合测试工作组接口包含一第二测试时钟引脚、一第二测试模式选择引脚、一第二测试数据输入引脚以及一第二测试数据输出引脚，所述第二测试时钟引脚以及所述第二测试模式选择引脚与所述缓冲寄存器电性连接，所述第二测试数据输入引脚与所述数据多工器电性连接，所述第二测试数据输出引脚与所述开关芯片电性连接；及一测试接口，所述测试接口分别与所述联合测试工作组芯片以及待测试电路板电性连接，所述联合测试工作组芯片通过所述测试接口以对待测试电路板的进行检测；其中，当所述联合测试工作组芯片产生所述通讯信号时，所述控制器自所述联合测试工作组芯片接收所述通讯信号以生成一选择信号，所述数据多工器依据所述选择信号中断所述第一测试数据输出引脚与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚的电性连接，并导通所述第二测试数据输入引脚与所述联合测试工作组芯片的数据输出引脚，所述开关芯片依据所述选择信号导通所述第一测试数据输出引脚与所述第二测试数据输出引脚，以使所述第一联合测试工作组接口以及所述第二联合测试工作组接口相互导通，并提供所述测试电路板彼此之间通过所述第一联合测试工作组接口以及所述第二联合测试工作组接口相互串接。