[发明专利]一种利用光干涉法测量光学平板玻璃弯曲刚度的方法

摘要

本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃弯曲刚度的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的弯曲刚度D。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。

主权项

1.一种利用光干涉法测量光学平板玻璃弯曲刚度的方法，其特征在于，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝(4)施加应力于光学平板玻璃(10)，并通过测量仪器(9)显示应力传感器(7)测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，利用钠光源(1)发出钠光，钠光经反射镜(3)反射后垂直入射到平凸透镜(11)上，通过读数显微镜(2)读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃(10)的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：利用步骤3测得的数据，得到光学平板玻璃(10)的弯曲刚度D：其中，σ为光学平板玻璃的中心应力，D为光学平板玻璃的弯曲刚度，μ为光学平板玻璃的泊松比，a为光学平板玻璃的半径，r为牛顿环干涉条纹黑斑的半径，R为平凸透镜的标准曲率半径；所述测量方法采用的测量装置的具体结构包括底座(6)，底座(6)的凹槽中放置有应力传感器(7)，应力传感器(7)的探头高于底座(6)的凹槽上表面，应力传感器(7)的探头上放置有平凸透镜(11)，平凸透镜(11)上放置有光学平板玻璃(10)，平凸透镜(11)的凸面与光学平板玻璃(10)接触，光学平板玻璃(10)的上表面边缘上放置有上盖(5)，上盖(5)通过螺丝(4)与底座(6)连接，上盖(5)与底座(6)之间有空隙；应力传感器(7)的信号线穿过底座(6)上的通孔(8)与测量仪器(9)连接，测量仪器(9)用于显示应力传感器(7)采集到的应力；所述应力传感器(7)、所述光学平板玻璃(10)、所述平凸透镜(11)同轴。