[发明专利]一种薄片类金相分析试样卡具有效
| 申请号： | 201611149260.0 | 申请日： | 2016-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN106706401B | 公开（公告）日： | 2020-02-25 |
| 发明（设计）人： | 吕知清;肖振兴;张晓丹;张志锋;肖少彬;张泉 | 申请（专利权）人： | 燕山大学 |
| 主分类号： | G01N1/32 | 分类号： | G01N1/32;G01N3/04;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 秦皇岛一诚知识产权事务所(普通合伙) 13116 | 代理人： | 崔凤英 |
| 地址： | 066004 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种薄片类金相分析试样卡具，包括螺钉、压紧板、基座和垫块，基座为长方体硬质结构，从顶部向下加工倒三角形卡口，卡口的底端与基座的透孔相通，在基座卡口的顶部两侧分别向下加工螺纹孔A；垫块的顶部为长方体支撑台、底部为倒三角插头，倒三角插头与基座的倒三角形卡口相互配合；压紧板的主体为长方体板体结构，在底部加工一个与垫块的长方体支撑台尺寸对应的压槽，在压紧板的顶面两侧分别向下开设螺纹孔B；垫块的倒三角插头插入基座的倒三角形卡口中，压紧板的压槽扣在垫块支撑台上，螺钉穿过压紧板的螺纹孔A与基座的螺纹孔B连接。本发明具有结构简单合理、操作方便、成本低廉等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄片 金相 分析 试样 卡具 | ||
【主权项】：
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