[发明专利]MIMO无线终端的无线性能测试方法有效

专利信息
申请号: 201611154847.0 申请日: 2016-12-14
公开(公告)号: CN108234036B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 漆一宏;沈鹏辉 申请(专利权)人: 深圳市通用测试系统有限公司
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12;H04B17/15;H04B17/21;H04B17/29
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张润
地址: 518102 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提出一种MIMO无线终端的无线性能测试方法,包括获得微波暗室中测得的被测MIMO无线终端的多个天线的天线方向图信息,进而根据被测MIMO无线终端的天线方向图信息获得测试信号,并使用被测MIMO无线终端的误差校准联合矩阵对所述测试信号进行校准,获得测试用发射信号,最后将测试用发射信号馈入至微波暗室的多个测量天线之中,并通过测量天线向无线终端发射以对无线终端进行测试。由于采用了误差校准联合矩阵对测试信号校准获得测试用发射信号,以消除测试误差,解决现有技术中无法对测试误差进行量化,导致MIMO无线终端测试的准确性和可重复性的技术问题。
搜索关键词: mimo 无线 终端 性能 测试 方法
【主权项】:
1.一种MIMO无线终端的无线性能测试方法,其特征在于,被测MIMO无线终端具有多个天线,所述被测MIMO无线终端放置于微波暗室中,所述方法包括以下步骤:A、获得所述被测MIMO无线终端的多个天线的天线方向图信息;B、根据所述被测MIMO无线终端的天线方向图信息获得测试信号;C、使用所述被测MIMO无线终端的误差校准联合矩阵对所述测试信号进行校准,获得测试用发射信号;D、将所述测试用发射信号馈入至微波暗室的多个测量天线之中,并通过所述测量天线向所述无线终端发射以对所述无线终端进行测试。
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