[发明专利]诊断系统、集成电路设计布局及物理集成电路实施的方法有效
| 申请号： | 201611157792.9 | 申请日： | 2016-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN106897477B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 张简维平;郑宏正;林佩莹;徐欣吴 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/392 | 分类号： | G06F30/392 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人： | 章社杲;李伟 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种诊断系统包括位置提取器、文件生成器和芯片诊断工具。位置提取器被设置成根据标注知识产权设计布局中的至少一个部件的至少一个标记文本，提取集成电路设计布局的知识产权设计布局中的至少一个部件的至少一个坐标。文件生成器被设置成根据至少的坐标生成格式文件。芯片诊断工具被设置成扫描物理集成电路中的物理知识产权电路，以根据格式文件确定物理知识产权电路中的缺陷部件。物理知识产权电路对应于知识产权设计布局，并且物理集成电路对应于集成电路设计布局。本发明还提供了基于集成电路(IC)设计布局实施的方法以及基于物理集成电路(IC)实施的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 诊断 系统 集成电路设计 布局 物理 集成电路 实施 方法 | ||
【主权项】：
一种诊断系统，包括：位置提取器，被设置成根据标注设计布局中的至少一个部件的至少一个标记文本，提取集成电路(IC)设计布局的所述设计布局中的至少一个部件的至少坐标；文件生成器，被设置成根据所述至少坐标生成所述集成电路设计布局的格式文件；以及芯片诊断工具，被设置成扫描物理集成电路中的物理电路，以根据所述格式文件确定所述物理电路中的缺陷部件；其中，所述物理电路对应于所述设置布局，并且所述物理集成电路对应于所述集成电路设计布局。
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