[发明专利]一种GaN基发光二极管外延片的制造方法有效
申请号: | 201611161065.X | 申请日: | 2016-12-15 |
公开(公告)号: | CN106848020B | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 李红丽;胡加辉 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L33/14;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 322000 浙江省金华市义*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种GaN基发光二极管外延片的制造方法,属于半导体技术领域。包括:在衬底上依次形成缓冲层、未掺杂GaN层、N型GaN层、N型阻挡层、应力释放层、量子阱、P型电子阻挡层、P型GaN层;N型阻挡层由高温AlGaN层和低温GaN层组成,高温AlGaN层和低温GaN层中均掺杂有N型掺杂剂,高温AlGaN层的生长温度高于低温GaN层的生长温度。本发明通过高温AlGaN层有效限制电子的迁移,减小电子的迁移速率,提高发光阱区载流子的浓度,最终提升发光效率;同时通过低温GaN层阻隔缺陷,改变V形坑的大小和开口位置,减少由于晶格失配产生的位错,减少漏电,提高抗静电能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 gan 发光二极管 外延 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种GaN基发光二极管外延片的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括:在衬底上依次形成缓冲层、未掺杂GaN层、N型GaN层、N型阻挡层、应力释放层、量子阱、P型电子阻挡层、P型GaN层;其中,所述N型阻挡层由高温AlGaN层和低温GaN层组成,所述高温AlGaN层和所述低温GaN层中均掺杂有N型掺杂剂,所述高温AlGaN层的生长温度高于所述低温GaN层的生长温度。
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