[发明专利]致密储层微观孔隙结构的表征方法有效
| 申请号： | 201611164619.1 | 申请日： | 2016-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN108204936B | 公开（公告）日： | 2020-10-13 |
| 发明（设计）人： | 李志鹏;刘显太;杨勇;郭迎春;吕广忠;陈利;卜丽侠;何伟;刘峰;孙玉花;高劲松;王玮;王瑞;张书凡 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 济南日新专利代理事务所(普通合伙) 37224 | 代理人： | 崔晓艳 |
| 地址： | 257000 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： |
本发明提供一种致密储层微观孔隙结构的表征方法，该致密储层微观孔隙结构的表征方法包括：步骤1，进行压汞实验数据处理；步骤2，利用处理后的数据，绘制喉道半径与区间汞饱和度频率的直方图；步骤3，根据喉道半径与区间汞饱和度频率直方图，选取主峰峰值半径R |
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| 搜索关键词： | 致密 微观 孔隙 结构 表征 方法 | ||
【主权项】：
1.致密储层微观孔隙结构的表征方法，其特征在于，该致密储层微观孔隙结构的表征方法包括：步骤1，进行压汞实验数据处理；步骤2，利用处理后的数据，绘制喉道半径与区间汞饱和度频率的直方图；步骤3，根据喉道半径与区间汞饱和度频率直方图，选取主峰峰值半径Rf；步骤4，进行压汞数据截取处理；步骤5，计算喉道与孔隙配置系数，利用压汞实验特征数据，求取喉道半径与对应区间汞饱和度乘积之和，作为喉道与孔隙的配置系数。
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